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键盘温度冲击试验方案

浏览次数: | 2015-09-07 15:26

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  键盘温度冲击试验方案

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  a) 测试方案:将装配好的整机放置在将温度冲击试验箱中:先在-40℃±2℃的低温环境下保持1 h,在1min内将温度切换到80℃±2℃的高温环境下并保持1h ,共做10个循环(20h),样品取出后在室温下面放置2 h以上。拆开整机将拱形薄膜从PCB板上撕掉后检查Dome有无从薄膜上脱落、测试Dome及EMI层的电阻值、并测试Dome弹片的回弹曲线。

  b) 通过准则:Dome没有从拱形薄膜上脱落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(测试方法见15.3条)、EMI层的阻值小于 2.5 Ω;按键行程(Stroke)、接触力(P1)、回弹比率(Cc)符合15.4节的要求。






 


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